Journals →
Материалы электронной техники →
2010 →
#1 →
Back
Back
АТОМНАЯ СТРУКТУРА И МЕТОДЫ СТРУКТУРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ | |
ArticleName | Влияние условий выращивания слитков твердых растворов Bi2Te2,7Se0,3 на анизотропию физических свойств |
ArticleAuthor | В. Т. Бублик, А. И. Воронин, Е. А. Выговская, В. Ф. Пономарев, Н. Ю. Табачкова, О. В. Торопова |
ArticleAuthorData | В. Т. Бублик, доктор физ.-мат. наук, профессор, Е. А. Выговская, кандидат физ.-мат. наук, старший научный сотрудник, Н. Ю. Табачкова, кандидат физ.-мат. наук, старший научный сотрудник, О. В. Торопова, научный сотрудник, (ФГОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский пр-т, д. 4); А. И. Воронин, инженер, В. Ф. Пономарев, кандидат техн. наук, начальник лаборатории, (ООО НПО «Кристалл», 141060, Московская область, г. Королев, ул. Станционная, д. 45-Б). |
Abstract | Проведен анализ анизотропии
свойств термоэлектрических
твердых растворов халькогенидов висмута на основе изучения
текстуры в слитках, полученных
методом зонной плавки и модифицированным методом Бриджмена (выращивание термоэлектрических пластин в плоской
полости). На основании результатов анализа текстуры показано, что для кристаллизации модифицированным методом Бриджмена существенным фактором, влияющим на формирование структуры твердых растворов термоэлектрического материала, является не только скорость кристаллизации, но и конструктивное исполнение кристаллизационной полости. |
keywords | Метод Бриджмена, твердые растворы, термоэлектрические материалы. |
References | 1. Гольцман, Б. М. Полупроводниковые термоэлектрические материалы на основе Bi2Te3. / Б. М. Гольцман, В. А. Кудинов,
И. А. Смирнов - М. : Наука, 1972. - 320 с. 2. Бублик, В. Т. Зависимость растрескивания от характера структуры поликристаллических слитков на основе твердых растворов Bi2Te3—Bi2Se3 / В. Т. Бублик, В. В. Каратаев, В. Б. Освенский, Т. Б. Сагалова, А. В. Фролов // Кристаллография. - 1998. - Т. 43, № 1. - С. 104—108. 3. Белов, Ю. М. Влияние условий кристаллизации на структуру пластин твердых растворов термоэлектрических материалов на основе Bi2Te3 выращенных из расплава / Ю. М. Белов, В. Т. Бублик, А. И. Воронин, В. Ф. Пономарев, Н. Ю. Табачкова // Изв. вузов. Материалы электрон. техники. - 2008. - № 2. - С. 22—25. |
Language of full-text | russian |
Full content | Buy |