References |
1. Fainer, N. Low−k dielectrics on base of silicon carbon nitride films / N. Fainer, Y. Rumyantsev, M. Kosinova, E. Maximovski, V. Kesler, V. Kirienko, F. Kuznetsov // Surface and Coat. Tech. − 2007. − V. 201, N 22–23. − P. 9269—9274. 2. Файнер, Н. И. Использование гексаметилциклотрисилазана для получения прозрачных пленок сложного состава / Н. И. Файнер, А. Н. Голубенко, Ю. М. Румянцев, Е. А. Максимовский // Физика и химия стекла. − 2009. − Т. 35. − С. 351—364. 3. Fainer, N. I. Synthesis and thermal stability of nanocomposite SiCxNy : H films from cycle siliconorganic precursor / N. I. Fainer, Yu. M. Rumyantsev, V. G. Kesler, E. A. Maximovski, F. A. Kuznetsov // ECS Trans. − 2009. − V. 25. − P. 921—926. 4. Кеслер, В. Г. Синтез диэлектрических пленок карбонитрида кремния с улучшенными оптическими и механическими свойствами из тетраметилдисилазана / В. Г. Кеслер, Е. А. Максимовский, Б. М. Аюпов, Ф. А. Кузнецов // Физика и химия стекла. − 2012. − Т. 38, № 4. − (в печати). 5. Морозова, Н. Б. Бета−дикетонаты рутения(III) / Н. Б. Морозова, В. Н. Митькин, И. К. Игуменов, С. В. Земсков, О. Г. Потапова // Коорд. химия. − 1989. − Т. 15, № 1. − С. 110—115. 6. Semyannikov, P. P. In situ mass spectrometry during thermal CVD of the tris−acetylacetinates of 3−d transition metal / P. P. Semyannikov, I. K. Igumenov, S. V. Trubin, I. P. Asanov // J. Phys. IV. − 2001. − V. 11. − P. Pr3−995—Pr3−1003. 7. Морозова, Н. Б. Синтез, структура и термические свойства летучих комплексов меди(II) c бета−дииминными производными ацетилацетона и строение кристаллов 2−(метиламино)−4−(метилимино)−2−пентена / Н. Б. Морозова, П. А. Стабников, И. А. Байдина, П. П. Семянников, С. В. Трубин, И. К. Игуменов // Журн. структ. химии. − 2007. −Т. 48, N 5. − С. 947—956. 8. Bykov, A. F. Investigation of thermal properties of ru thenium(III) β–diketonate precursors for preparation of RuO2 films by CVD / A. F. Bykov, N. B. Morozova, I. K. Igumenov, S. V. Sysoev // J. Therm. Anal. − 1996. − V. 46. − P. 1551—1565. 9. Igumenov, I. K. Approach to control deposition of ultra thin films from metal organic precursors: Ru deposition / I. K. Igumenov, P. P. Semyannikov, S. V. Trubin, N. B. Morozova, N. V. Gelfond, A. V. Mischenko, J. A. Norman // Surface and Coatings Technol. − 2007. − V. 201, N 22—23. − P. 9003—9008. 10. Morozova, N. B. Synthesis and properties of volatile Cu(II) complexes with beta−diiminate derived from acetylacetone — new precursors for MOCVD processes / N. B. Morozova, N. V. Gelfond, T. I. Liskovskaya, P. A. Stabnikov, P. P. Semyannikov, S. V. Trubin, A. V. Mischenko, I. K. Igumenov, J. A. Norman. − NJ (USA) : Electrochemical Society. − Proc. V. 2005−09. − P. 667—674. 11. Файнер, Н. И. От кремнийорганических соединений−предшественников — к многофункциональному карбонитриду кремния / Н. И. Файнер // ЖОХ. − 2012. − Т. 82, № 1. − С. 47—56. 12. Smirnova, Т. P. MO CVD and physicochemical characterization of (HfO2)x(Al2O3)1−x thin films / Т. P. Smirnova, M. S. Lebedev, N. B. Morozova, P. P. Semyannikov, K. V. Zherikova, V. V. Kaichev, Yu. V. Dubinin //Chemical Vapor Deposition. − 2010. − V. 16. − P. 185—190. 13. Смирнова, Т. П. Химическое строение пленок оксида гафния на кремнии / Т. П. Смирнова, В. В. Каичев, Л. В. Яковкина, В. И. Косяков, С. А. Белошапкин, Ф. А Кузнецов, М. C. Лебедев, В. А. Гриценко //Неорган. материалы. − 2008. − Т. 44, № 9. − С. 1086—1092. 14. М. С. Лебедев. Тонкопленочные композиции на основе диоксида гафния и оксида алюминия: синтез и характеризация: Дисс. … канд. хим. наук. − Новосибирск, 2010. 15. Smirnova, T. P. MO CVD and physicochemical characterization of (HfO2)x(Al2O3)1−x thin films / T. P. Smirnova, M. S. Lebedev, N. B. Morozova, P. P.Semyannikov, K. V. Zherikova, V. V. Kaichev, Yu. V. Dubinin // Chem. Vapor. Deposition. − 2010. − V. 16. − P. 185—190. 16. Dielectric films for advanced microelectronics / Ed. by M. Baklanov, M. Green, K. Maex. − Berlin : Wiley, 2007. − 510 p. 17. Яковкина, Л. В. Структура и свойства пленок на основе двойных оксидов HfO2—Sc2O / Л. В. Яковкина, Т. П. Смирнова, В. О. Борисов, S.−J. Hwan, Н. Б. Морозова, В. Н. Кичай, А. В. Смирнов // ЖСХ. − 2011. − Т. 52, № 4. − С. 764—768. 18. Bendeddouche, A. Structural characterization of amorphous SiCxNy chemical vapor deposited coatings / A. Bendeddouche, R. Berjoan, E. Beche, T. Merle−Mejean, S. Schamm, V. Serin, G. Taillades, A. Pradel, R. Hillel // J. Appl. Phys. − 1997. − V. 81. − P. 6147—6154. 19. He, X. M. Bonding structure and properties of ion enhanced reactive magnetron sputtered silicon carbonitride films / X. M. He, T. N. Taylor, R. S. Lillard, K. C. Walter, M. Nastasi // J. Phys. : Condens. Matter. − 2000. − V. 12. − P. L591—L597. 20. Wagner, C. D. Photoelectron and auger energies and the auger parameter − a data set / C. D. Wagner // Practical surface analysis 1: Auger and X−ray photoelectron spectroscopy. − Chichester : Wiley, 1990. 21. Fainer, N. I. Study of structure and phase composition of nanocrystal silicon carbonitride films / N. I. Fainer, E. A. Maximovskii, Yu. M. Rumyantsev, M. L. Kosinova, F. A. Kuznetsov // NIMA. − 2001. − V. 470. − P. 193—197. 22. Fainer, N. I. Nanocrystalline films of silicon carbonitride: chemical composition and bonding and functional properties / N. I. Fainer, M. L. Kosinova, Yu. M. Rumyantsev, E. A. Maximovskii, B. M. Ayupov, B. A. Kolesov, F. A. Kuznetsov, V. G. Kesler, M. Terauchi, K. Shibata, F. Satoh, Z. X. Cao. // Proc. Fifteenth Europ. Conf. on Chemical Vapor Deposition. EUROCVD−15. − 2005. − V. 2005−09. − P. 1074—1081. 23. Fainer, N. I. Thin silicon carbonitride films are perspective low−k materials / N. I. Fainer, M. L. Kosinova, Yu. M. Rumyantsev, E. A. Maximovskii, F. A. Kuznetsov // J. Phys. and Chem. of Solids. − 2008. − V. 69. − P. 661—668. 24. Chen, C. W. Optical properties and photoconductivity of amorphous silicon carbon nitride thin film and its application for UV detection / C. W. Chen, C. C. Huang, Y. Y. Lin, L. C. Chen, K. H. Chen, W. F. Su // Diamond Relat. Mater. − 2005. − V. 14. − P. 1010—1013. 25. Tauc, J. Optical properties and electronic structure of amorphous germanium / J. Tauc, R. Grigorovici, A. Vancu // Phys. status solid. − 1966. − V. 15. − P. 627—637. |