Journals →  Материалы электронной техники →  2012 →  #3 →  Back

МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ И МАТЕРИАЛОВ
ArticleName К вопросу о механизме пространственной самоорганизации свободных носителей тока в сильных электрических полях
ArticleAuthor В. С. Кузнецов, П. А. Кузнецов
ArticleAuthorData

Ярославский государственный университет им. П. Г. Демидова

В. С. Кузнецов

П. А. Кузнецов

Abstract

Рассмотрен поиск аналитического решения стационарной задачи поведения лавинного тока в сильных электрических полях при наличии центров генерации и рекомбинации. Представлены вольт−амперные характеристики для p—i—n−структуры. Полученные результаты объясняют образование пространственных структур и гистерезис в сильных электрических полях.

keywords Лавинный пробой, рекомбинация, глубокие уровни
References

1. Грехов, И. В. Лавинный пробой p—n−перехода в полупроводниках / И. В. Грехов Ю. Н. Серёжкин. − Л. : Энергия, 1980.
2. Гафийчук, В. В. Микроплазмы в идеально однородных p—i—n−структурах. / В. В. Гафийчук, Б. И. Дацко, Б. С. Кернер, В. В. Осипов // ФТП. − 1990. − Т. 24, № 4. − С. 724.
3. Rodin, P. Tunneling−assisted impact ionization fronts in semiconductors / P. Rodin, U. Ebert, W. Hundsdorfer, I. Grekhov // J. Appl. Phys. − 2002. − V. 92, N 2. − P. 958—964.
4. Кюрегян, A. C. О механизме пробоя p−n переходов при больших скоростях нарастания обратного смещения / A. C. Кюрегян // Письма в ЖТФ. − 2005. − Т. 31, вып. 24. − С. 11—19.
5. Грехов, И. В. О модели мультистримерного переключения высоковольтных кремниевых p—n−переходов за порогом зинеровского пробоя / И. В. Грехов, И. П. Родин // Письма в ЖТФ. − 2007. − Т. 33, вып. 4. − С. 87—94.
6. Шелль, Э. Самоорганизация в полупроводниках. Неравновесные фазовые переходы в полупроводниках, обусловленные генерационно−рекомбинационными процессами. / Э. Шёлль − М. : Мир, 1991. − 464 с.
7. Милнс, А. Примеси с глубокими уровнями в полупроводниках. / А.Милнс. − М. : Мир, 1977. − 124 с.
8. Ландау, Л. Д. Квантовая механика. Нерелятивистская механика / Л. Д. Ландау, Е. М. Лифшиц. − М. : Наука, 1989. − 761 с.
9. Levinshtein, M. Breakdown phenomena in semiconductors and semiconductor devices / M. Levinshtein, J. Kostamovaara, S. Vainshtein. − Singapore : World Scientific Publishing Co. Ptc. Ltd., 2005.
10. Астров, Ю. А. Токовые структуры в Si(Zn). / Ю. А. Астров // ФТП. − 1993. − Т. 27, № 11/12. С. 1971—1989.
11. Астров, Ю. А. Исследование структуры токовых нитей в Si(Zn) / Ю. А. Астров, С. А. Хореев // ФТП. − 1993.− Т. 27, № 11/12. − С. 1024—2029.

Language of full-text russian
Full content Buy
Back